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分析天平ATX/ATY系列
日本岛津公司推出ATX/ATY系列新型分析天平,该系列天平可提供多种功能,测量操作简单,结果精确。该ATX/ATY系列新型分析天平测量范围可 达 82~220g,其显著特点之一是采用
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SPM300系列半导体参数测试仪
设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性
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SPM600系列半导体参数分析仪
SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑
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ATX2000_低噪声吸光度测量系统
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TA-60WS热分析工作站
技术特点】-- 岛津分析天平ATX/ATY系列 电动校准 马达驱动内砝码校准,只需一按键,可随时进行校准(ATX系列) 或者可以使用外部砝码校准(ATX
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TAC-60L/60i 自动冷却装置用于DSC-60/60A (差示扫描量热仪
技术特点】-- 岛津分析天平ATX/ATY系列 电动校准 马达驱动内砝码校准,只需一按键,可随时进行校准(ATX系列) 或者可以使用外部砝码校准(ATX
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LabSolutions IR新一代红外光谱工作站
技术特点】-- 岛津分析天平ATX/ATY系列 电动校准 马达驱动内砝码校准,只需一按键,可随时进行校准(ATX系列) 或者可以使用外部砝码校准(ATX
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TGA-50/50H 与 TGA-51/51H热重分析仪
技术特点】-- 岛津分析天平ATX/ATY系列 电动校准 马达驱动内砝码校准,只需一按键,可随时进行校准(ATX系列) 或者可以使用外部砝码校准(ATX
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ATX2100_科学级吸光度、荧光测量系统
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UVmini-1285紫外分光光度计
岛津UVmini-1285拥有宽416mmx深379mm的小巧机身,自带清晰可见的LCD液晶屏,无需连接电脑,用户也可轻松操作,直观查看结果,操作更便捷。
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